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圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測(cè)量?jī)x

圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規(guī)格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 　型號(hào)：FA-100C-K 型號(hào)：FA-150EN-K

更新日期：2024-03-25    訪問量：1437    

seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測(cè)量?jī)x

seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規(guī)格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 　型號(hào)：FA-100C-K 型號(hào)：FA-150EN-K

更新日期：2024-03-25    訪問量：1506    

seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測(cè)量?jī)x

seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過濾器底座規(guī)格 F20 系列過濾器可以從纖維出口插入和移除。 　型號(hào)：FA-100C-K 型號(hào)：FA-150EN-K

更新日期：2024-03-25    訪問量：1399    

YP-250I電子元器件用表面檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-250I電子元器件用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2024-03-24    訪問量：1508    

YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測(cè)用表面檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測(cè)用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2024-03-24    訪問量：2221    

YP-250I液晶面板檢測(cè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-250I液晶面板檢測(cè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2024-03-24    訪問量：1437    

YP-250I液晶屏幕檢測(cè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-250I液晶屏幕檢測(cè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2024-03-24    訪問量：1459    

YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2024-03-24    訪問量：1504    

YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2024-03-24    訪問量：1465    

YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

更新日期：2024-03-24    訪問量：1519    

YP-150I表面檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-150I表面檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來

更新日期：2024-03-24    訪問量：1487    

YP-150I目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-150I目視檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來

更新日期：2024-03-24    訪問量：1494    

YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x

YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來

更新日期：2024-03-24    訪問量：3903    

日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測(cè)量?jī)x

日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來

更新日期：2024-03-24    訪問量：2666    

日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測(cè)量?jī)x

日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來

更新日期：2024-03-24    訪問量：1382